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Leeno 테스트 핀 SG248R
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LEENO OT841R-M1.7 ICT 테스트 핀
💌 Vector Vina의 진심 어린 안내 말씀:
Lenno ICT 테스트 핀 제품군의 특성상 마진율이 매우 낮고 시장 경쟁이 극도로 치열합니다. 당사의 실무 경험상, 유통 파트너(무역업체)를 통한 주문은 최종 사용자에게 도달할 때 가장 경쟁력 있는 가격을 유지하기 어려워 거래 성사가 매우 힘든 경우가 많습니다.
이러한 이유로 최적의 효율성을 보장하기 위해, Vector Vina는 부득이하게 실제 공장 및 제조 기업에만 직접 견적을 지원해 드리고 있습니다.
유통 파트너사 여러분의 너그러운 양해와 공감을 부탁드립니다. Vector Vina는 모든 비즈니스 기회를 소중히 여기며, 향후 더욱 적합한 다른 제품군에서 귀사와 협력할 수 있기를 희망합니다. 진심으로 감사드립니다!
LEENO(한국) 브랜드의 ICT 테스트 핀 OT841R-M1.7은 반도체 및 전자 산업의 복잡한 지그(jig) 및 픽스처(fixture)용으로 특별히 설계된 고성능 검사용 부품입니다. 완벽한 기계적 정밀도와 안정적인 신호 전송 특성을 갖춘 OT841R-M1.7은 집적 회로(IC), 고밀도 기판 및 최고 수준의 신뢰성이 요구되는 부품 검사 애플리케이션을 위한 최고의 선택입니다.
ICT 테스트 핀 LEENO OT841R-M1.7 – 고성능 특수 검사용 솔루션
집적회로 테스트(IC testing)나 부품 밀도가 극히 높은 보드 검사와 같은 정밀 검사 애플리케이션에서는 테스트 핀(probe pin)의 선택이 전체 공정의 성공을 좌우합니다. ICT 테스트 핀 LEENO OT841R-M1.7은 가장 까다로운 요구 사항을 충족하도록 개발되어 일반 제품으로는 도달할 수 없는 성능과 신뢰성을 제공합니다.
한국의 글로벌 선도 브랜드인 LEENO의 제품인 OT841R-M1.7은 첨단 기술과 고급 소재로 제작되어 수백만 회의 사이클 동안 내구성 있는 작동 성능을 보장합니다.
기술 사양:
- 제품 코드: OT841R-M1.7
- 브랜드: LEENO
- 원산지: 한국
- 제품 유형: 포고 핀(Pogo Pin) / ICT Probe Pin / Semiconductor Test Probe
- 적용 분야: 반도체 부품, 집적회로(IC) 및 절대적인 정밀도가 요구되는 초고밀도 기판(PCB, FPC) 검사 애플리케이션에 특히 적합합니다.
LEENO OT841R-M1.7 테스트 핀의 주요 특징:
- 특수 설계: 전기적 특성(낮은 임피던스, 높은 대역폭) 및 기계적 특성(내구성, 안정적인 접점 압력)에 대한 높은 기준이 요구되는 복잡한 검사 작업에 최적화된 제품 라인입니다.
- LEENO의 품질: 한국의 최고 기준에 따라 제조 및 품질 관리가 이루어져 개별 제품마다 균일성과 신뢰성을 보장합니다.
- 탁월한 내구성: 첨단 소재를 사용하여 고강도 작업 사이클을 견딜 수 있으며, 유지보수 및 교체를 위한 장비 가동 중단 시간을 최소화합니다.
- 안정적인 신호: 내부 구조가 최적화되어 측정 신호를 손실 없이 정확하게 전달하므로 신뢰할 수 있는 검사 결과를 제공합니다.
정밀도와 신뢰성에서 어떠한 타협도 허용되지 않는 애플리케이션이라면 LEENO OT841R-M1.7을 선택하십시오.
