ICTテストプローブ LEENO OT841R-M1.7

ICTプローブピン LEENO OT841R-M1.7 – 高性能専用テストソリューション

ICテスト（集積回路テスト）や超高密度実装基板などの高度なテスト用途において、プローブピン（probe pin）の選択はプロセス全体の成否を決定づける重要な役割を果たします。ICTプローブピン LEENO OT841R-M1.7は、最も厳しい要求に応えるために開発され、従来の製品では達成できない性能と信頼性を提供します。

韓国の世界的トップブランドであるLEENOの製品として、OT841R-M1.7は先端技術と高級素材を用いて製造されており、数百万サイクルにわたる高耐久な動作性能を保証します。

技術仕様：

• 型番： OT841R-M1.7
• ブランド： LEENO
• 原産国： 韓国
• 製品タイプ： ポゴピン / ICT Probe Pin / Semiconductor Test Probe
• 用途： 絶対的な精度が求められる半導体部品、集積回路（IC）、および超高密度実装基板（PCB、FPC）のテスト用途に特に適しています。

プローブピン LEENO OT841R-M1.7の主な特徴：

1. 専用設計： 電気的特性（低インピーダンス、高帯域幅）および機械的特性（耐久性、安定した接触圧）に対する高い要求が求められる複雑なテスト作業に最適化された製品ラインです。
2. LEENO品質： 韓国の最高基準に従って製造および品質管理が行われ、すべての製品において均一性と信頼性を保証します。
3. 優れた耐久性： 先進的な素材を採用することで、高負荷の動作サイクルに耐え、メンテナンスや交換によるダウンタイムを最小限に抑えます。
4. 安定した信号： 内部構造が最適化されており、測定信号を減衰させることなく正確に伝送し、信頼性の高いテスト結果をもたらします。

精度と信頼性において一切の妥協が許されない用途には、LEENO OT841R-M1.7をお選びください。